判断LED失效的依据是什么？

与其他电子元器件类似，LED的失效是指在规定的时间内器件不能完成规定的功能，也就是称其功能丧失为失效。

对LED进行失效分析时，必须遵循先进行非破坏性、可逆、可重复的试验，再做半破坏性、不可重复的试验，最后进行破坏性试验的原则。应采用合适的分析方法，最大限度地防止被分析器件（DUA）的真正失效因素、迹象丢失或引入新的失效因素，以期得到客观的分析结论。

可以用LED的某一个或几个参数的变化当做其是否失效的判据。例如，常使用LED发光强度与起始值的比值来做判据，其定义为：随着LED工作时间的增长，当其发光强度Iv下降到其起始值的某一个百分比值时，则认为该LED失效。这个百分比值可以是50%也可以是20%。

显然，评估单个LED的失效水平意义不大，通常针对某一类具有相同属性的物件的群体进行失效评价才有实用意义。这就是说从一个LED群体中，用某一时间内器件失效的数量与整个群体总数的百分比来评价更有意义，也就是用所谓的失效率来评价器件失效的水平。

失效率的定义是指在单位时间内某类物体失效（规定功能丧失）的百分数，用符号λ来表示，单位为%。例如，在某一系统中，共使用10万个LED，在单位时间内失效数为1个，则这个系统的LED的失效率为十万分之一。

在LED的失效分析过程中，经常受到分析仪器设备和手段的限制，不能直观地证明失效原因，高素质的分析工程师经常通过某些分析试验，采取排除的办法来推论反证失效原因。例如，DUA为8×8红光LED点阵，半成品初测合格，灌胶后出现单点LED反向漏电流特大的现象，受仪器设备限制，只有直流电源和LED光电参数测试仪，不能做解剖或透视分析。在测试中发现DUA正向光电参数无异常，而反向漏电流大，因此采用反向偏置并加大电流至数十毫安后，再测正向光电参数，前后结果无明显变化，由此说明反向偏置中的数十毫安并非从该LED芯片通过，从而推断并非由LED芯片造成漏电。